為什麼選擇多傳感器測量？

複合多傳感器測量可以促進質量過程的效率。

測量生產部件的尺寸是生產質量控製的基礎。公司越來越依賴複合多傳感器測量係統用於質量。

但如何讓一個擁有多個傳感器的機器？每個傳感器如何在同一個係統中互不影響的協作？

光學CCD測量

一些人認為光學測量局限於平的部件或在單一平麵測量。這將不再是問題。在機器內的地方，聚焦功能使得軟件呈現那些點之間的尺寸與位置關係。光學測量速度很快而且無需接觸，不僅局限於CCD探頭能測量的。

觸發式探針

觸發式探針式質量控製的主打產品。觸發式探針是與CMM相關的。但是它僅是用於多傳感器光學測量係統的普通傳感器。

觸發式探針探測與部件接觸。由於探針可以從任一方向與表麵接觸，他可以測量光學CCD不能夠成像的特征點，例如圓柱內，鑽孔內的點。

觸發式探針的一個缺點是測量多個點時速度慢。每個點逐個接觸與記錄，因此需要花費時間來取得足夠的點來詳細的描述特征。易碎的與可變形的部件可能也會導致由於部件變形產生的問題。

激光測量

激光傳感器的優勢有：光可以在一個小的區域聚焦，這個技術是非接觸式的並且數據點的采集率高。這使得這個傳感器測量很理想。例如在易碎部件的掃描測量與Z方向測量。

光纖測量

光纖測量傳感器補充了多傳感器技術技術中微型部件測量難題。傳統探針直徑在0.1mm，顯然無法測量小於0.1mm的部件特征。同時 也補充了傳統光學傳感器無法測量的微小內壁特征。例如汽車噴油嘴出油孔測量。

光纖傳感器具有的優勢有：測針及其微小，達到20微米的直徑大小。同時光纖傳感器測力及其微小，對部件形變基本無影響。這使得光纖測量傳感器對於微小部件測量理想。例如：小模數齒輪，噴油孔等。

X射線測量傳感器

X射線測量傳感器是應對日益複雜且嚴苛的質量控製而生的。集成了X射線特殊的斷層成像能力，基於坐標測量機的精密結構實現了全尺寸內外特征高精密。補充了光學測量機、接觸式測量機、光纖測量傳感器等無法測量內部特征的限製。

集成在坐標測量係統中的X射線測量傳感器繼承了坐標測量機的精密結構及精密測量能力，又集成X射線穿透能力的全尺寸測量技術。

坐標傳感器與測量

多傳感器測量係統的測量軟件控製所有的傳感器，追蹤它們在測量係統內的位置，包括彼此相對的補償並且控製數據采集。

對於三維測量，軟件保持所有采集的數據點的位置在測量範圍內，允許那些點建立可測量的關係。

正確使用傳感器

為了從一個多傳感器測量係統取得結果，使用有效的傳感器測量每個部件特征很重要。例如，光學CCD善於測量邊界。一個邊界可能是一個部件的邊界，一個鑽孔的頂部或者一個槽或一組孔一樣的特征。事實上，一個邊界可能是介於不同顏色之間的區域或一個表麵文理。

測量軟件可以很容易地測量在一個探測區域看到的擬合特征，在更多功能測量軟件應用可以沿著一個比攝像圖像更大的邊界自動移動CCD探頭或部件，同時測量多個特征，或者測量任意指定區域，尺寸。

儘管光學CCD傳感器能夠測量表麵點，激光傳感器快。此外，光學CCD傳感器一次收集一個表麵點，當激光移動時采集取樣點，可以在表麵掃描一個區域。當激光傳感器集成到係統的整體機械控製時，激光就可以掃描不同、複雜曲線的表麵。

當一個部件在一個固定位置時，觸發式探針可能從激光不能達到的部件表麵測量。例如，探針可以從光學係統同軸的鑽孔壁上測量。光學CCD可以很容易的測量圓柱與頂部平麵相交的頂部圓，但是不能測量圓柱內壁。探針可以采集圓柱周圍從頂部開始不同深度的點來測量分析圓度、圓柱度。

光學CCD、激光傳感器、探針是在多傳感器測量係統中主要的類型。有很多微型探針使用獨特的探針技術。例如：僅有20μm直徑的光纖探針，白光乾涉傳感器，色譜共交傳感器等。

益處

比起接受不完整信息，或者由於測量係統的限製，重要的製造判斷，一個由計算機控製的複合多傳感器測量機可以在一次自動程序提供徹底的，細節的測量數據。該測量僅需要很少或不需要人員的參與，不需要加載或卸載部件。複雜的多傳感器測量程序也要比人工在單一傳感器係統上測量來的快，提高了質量檢測中的效率。